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薄膜体积电阻率测定仪BEST-121
薄膜体积电阻率测定仪测试方法
薄膜体积电阻率测定仪测试方法
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薄膜体积电阻率测定仪概述：
薄膜体积电阻率测定仪技术指标 ：
无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求
薄膜体积电阻率测定仪概述：
体积表面电阻率测试仪既可测量超高电阻，又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路以及的技 术，使仪器体积小、重量轻、准确度高。本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流。
薄膜体积电阻率测定仪符合标准：
GB/T 1410-2006 、GB 12014 、GB/T 20991-2007 、GB 4385-1995 、GB 12158-2006 、GB 4655-2003 、GB/T 12703.4-2010 、GB/T 12703.6-2010 、GB 13348-2009 、GB/T 15738-2008 、GB/T 18044-2008 、GB/T 18864-2002 、GB/T 22042-2008 、GB/T 22043-2008 、GB/T 24249-2009 、GB 26539-2011 、GB/T 26825-2011 、GB 50515-2010 、GB 50611-2010 、GJB 105-1998-Z 、GJB 3007A-2009 、GJB 5104-2004
薄膜体积电阻率测定仪符合标准：
GB/T 1410-2006 、GB 12014 、GB/T 20991-2007 、GB 4385-1995 、GB 12158-2006 、GB 4655-2003 、GB/T 12703.4-2010 、GB/T 12703.6-2010 、GB 13348-2009 、GB/T 15738-2008 、GB/T 18044-2008 、GB/T 18864-2002 、GB/T 22042-2008 、GB/T 22043-2008 、GB/T 24249-2009 、GB 26539-2011 、GB/T 26825-2011 、GB 50515-2010 、GB 50611-2010 、GJB 105-1998-Z 、GJB 3007A-2009 、GJB 5104-2004
薄膜体积电阻率测定仪技术指标 ：
1. 电阻测量范围： 1×104Ω ～1×1018Ω，分为十个量程。
2. 电流测量范围：2×10-4A ～1×10-16A
3. 全数字液晶屏显示。
4. 准确度: 准确度优于下表
量程 有效显示范围 20～30℃ RH<80%
104 0.01~19.99 5%
105 0.01～19.99 5%
106 0.01～19.99 5%
107 0.01～19.99 5%
108 0.01～19.99 5%
109 0.01～19.99 5%
1010 0.01～19.99 5%+2字
1011 0.01～19.99 5%+2字
1012 0.01～19.99 5%+5字
1013 0.01～19.99 10%+5字
1014 0.01～19.99 10%+5字
1014以上 0.01～19.99 10-15%+5字
超出有效显示范围时误差有可能增加，测试电流准确度与电阻相同，测试电压准确度为 10%
5. 使用环境: 温度 -10℃～50℃ 相对湿度<90%。
6. 测试电压: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%
7. 供电形式: AC 220V，50HZ，功耗约10W。
8. 仪器尺寸: 300ｍｍ× 280ｍｍ× 150 mm。
9. 质量: 约3.0KG。
薄膜体积电阻率测定仪典型应用：
1,测量绝缘材料电阻(率)
2,测量防静电材料的电阻及电阻率
3,测量计算机房用活动地板的系统电阻值
4,测量防静电鞋,导电鞋的电阻值
5,光电二极管暗电流测量
6,物理,光学和材料研究
薄膜体积电阻率测定仪测量技术 ：
a.通常，绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘，固体绝缘材料还起机械支撑作用。一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻，并具有合适的机械、化学和耐热性能。
b.绝缘材料的电阻率一般都很高，也就是传导电流很小。如果不注意外界因素的干扰和漏电流的影响，测量结果就会发生很大的误差。同时绝缘材料本身的吸湿性和环境条件的变化对测量结果也有很大影响。
c.影响体积电阻率和表面电阻率测试的主要因素是温度和湿度、电场强度、充电时间及残余电荷等。体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数，电阻率随温度和湿度的变化而显著变化。体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀，或者用来检测那些能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。
d.由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去，因此只能近似地测量表面电阻，测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度。所以，表面电阻率不是表征材料本身特性的参数，而是一个有关材料表面污染特性的参数。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1min的电化时间。
薄膜体积电阻率测定仪工作原理：
薄膜体积电阻率测定仪工作原理：
根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差,分辨率低。
本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流Ｉ的变而变,所以,即使测量电压,被测量电阻,电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。
薄膜体积电阻率测定仪备注：
体积表面电阻率测试仪配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体,粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率,完全符合国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻,体积电阻系数和表面电阻试验方法,ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法 等标准要求。