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介电常数介质损耗测试仪装置：
2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4
《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司 研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。
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附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表 |
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BH916测试装置 |
GDAT高频Q表 |
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平板电容极片 |
Φ50mm/Φ38mm可选 |
频率范围 |
20KHz-60MHz/200KHz-160MHz |
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间距可调范围 |
≥15mm |
频率指示误差 |
3×10-5±1个字 |
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夹具插头间距 |
25mm±0.01mm |
主电容调节范围 |
30-500/18-220pF |
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测微杆分辨率 |
0.001mm |
主调电容误差 |
<1%或1pF |
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夹具损耗角正切值 |
≦4×10-4 （1MHz) |
Q测试范围 |
2～1023 |
高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。
介电常数介质损耗测试仪电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。
例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。
高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。
介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
Q表残余电感值：约20nH
介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～120MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。
绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。
同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。
维修
1．新购仪器的检查
新购的仪器能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。
LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。
2．使用和保养
高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。
a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；
b．使仪器经常保持清洁、干燥；
c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。
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